Caltech Indien bitt Laser Partikelgréisst Analysator. BGD249 Laser Particle Size Analyzer ass e Basis- a kosteneffektivt Produkt dat benotzt gëtt fir d'Partikelverdeelung vum Pudder a Latex ze moossen. Mat dem Phänomen vun der Liichtverstreetung vu Partikel, no der Verdeelung vun der Streuung vun der Liichtenergie, fir d'Gréisstverdeelung vun de gemoossene Partikelen ze berechnen. Dësen Analysator besëtzt d'Virdeeler vu breet Miessbereich, gutt Widderhuelbarkeet, einfach Operatioun an asw duerch Biuged Systemintegratioun an Optimiséierungsforoptik, Mechanik, Elektronik a Computer.
Patenter & Patent Technologies ugeholl
① Integréiert Laser Emitter: De Laser-Emitter, de Strahlexpander an de Pinhole-Filter sinn an e puer konzentresche Réier integréiert, an dann an ee Rouer mat béiden Enden zougemaach. Et ass schockbeständeg, einfach ze pflegen a mat stabilem Laseroutput.
② Verstreet Liichterkennung ronderëm eng Kugelfläch （DAS）: Déi grouss Wénkel Detektoren sinn an enger kugelfërmeg Uewerfläch plazéiert fir genee Fokus vum grousse Wénkel verstreet Liicht ze kréien.
Eegeschaften:
- Adoptéiert eenzegaarteg verspreet Liichterkennung ronderëm eng Kugelfläch (Patentnr.: 95223756.3), no Lens (och bekannt als "Reversal" oder "Konvergéierend Liicht") Fourier Transformatiounsstruktur, setzt grouss Wénkeldetektoren op eng richteg Kugelfläch, fir de genaue Fokus vun grousse Wénkel verspreet Luucht.
- Benotzt integrativ Laser-Emitter (Patentnr.: 00228952.0), reduzéiert effektiv d'thermesch Verformung vum Laserröhre, den Afloss vun externen mechanesche Schwéngungen op d'Stabilitéit vum Instrument.
- Naass Probe Fütterungssystem bestëmmt Boosterpompel, Topgeschwindegkeet kann 2800 Z / min erreechen, kann effektiv d'Zirkulatioun vu grousse Partikelen realiséieren.
- Inlet an Outlet Waasser Solenoid Krunn adoptéiert Däitschland Baode importéiert Produiten, Präzisioun Kontroll Aktioun, haltbar.
- Miessfenstermaterial benotzt héichqualitativ optesch Materialien, Fënsterkomponenten adopte voll Edelstahlmaterial, verschleißbeständeg, einfach ze botzen, an Ënnerhalt ass bequem.
- Liicht Wee System benotzt voll zouenen Design, verhënnert Stëbsverschmotzung an ausserhalb Liichtverschmotzung.
Main Technesch Parameter:
- Miessbereich: 0.1 ~ 500 μm / 0.2 ~ 500 μm
- Sample Feeding: naass Dispersioun, zirkuléierend Probefeeder & statesch Probezell
- Widderhuelbarkeet: <3%
- Scan Frequenz: 1000 Mol / Sekonn
- Pompel: 10m, maximal Geschwindegkeet: 2800 U/min, 10 L/min.
- Miesszäit: 1-2 Minutten
- Zuel vun detektéieren: 43
- Liichtquell: He-Nelaser (2.0 mW, 0.6328 μm)
- Ëmweltfuerderung: Temperatur: 5-35 ℃; Fiichtegkeet: ＜85%
- Bericht Artikelen: Partikelgréisst Verdeelungstabell & Grafik, Duerchschnëttsduerchmiesser, Median Duerchmiesser, SSA, asw.
Bestelle Informatiounen:
| BGD 249/1 | Laser Partikelgréisst Analysator (0.1~500μm) |
| BGD 249/2 | Laser Partikelgréisst Analysator (0.2~500μm) |
An Indien hu mir verschidde Clienten aus Mumbai, Delhi, Bangalore, Chennai, Hyderabad, Ahmedabad, Kolkata, Surat, Pune, Jaipur, Lucknow, Kanpur, Nagpur, Visakhapatnam, Indore, Bhopal, Patna, Vadodara, Ghaziabad, Ludhiana, Coimbatore, Madurai, Nashik, Srinagar, Aurangabad, Dhanbad, Allahabad a Ranchi an Indien.
